VMM ရှိ ရွေးချယ်နိုင်သော ဆက်စပ်ပစ္စည်းအဖြစ် အဆက်အသွယ်အာရုံခံကိရိယာအဖြစ် လူသိများသော 3D ထိတွေ့စုံစမ်းစစ်ဆေးသည့်စနစ်သည် တိုင်းတာမှုမုဒ်များစွာကိုရရှိရန် VMM ဖြင့် တပ်ဆင်ထားနိုင်ပြီး၊ ၎င်းသည် စနစ်ပိုမိုကြွယ်ဝသော တိုင်းတာမှုစွမ်းရည်များကို ပံ့ပိုးပေးကာ မတူညီသောအပလီကေးရှင်းအမျိုးအစားများအတွက် သင့်လျော်သည်။
1. တိကျသေချာသော အစပျိုးတိုင်းတာခြင်း- 3D touch probe သည် 3D သြဒိနိတ်အမှတ်များရရှိရန် မတူညီသောမျက်နှာပြင်များပေါ်တွင် probes များကို အစပျိုးခြင်းဖြင့် တိကျသော မြင့်မားသောအစပျိုးတိုင်းတာမှုကို လုပ်ဆောင်နိုင်ပြီး တိကျမှုမြင့်မားသောအရွယ်အစားတိုင်းတာမှုကို ရရှိနိုင်ပါသည်။
2. Surface morphology တိုင်းတာခြင်း- 3D touch probe သည် work-piece မျက်နှာပြင်ကို ဆက်သွယ်နိုင်ပြီး ဒေတာကို ရယူနိုင်ပြီး၊ ရှုပ်ထွေးသော မျက်နှာပြင်ရုပ်ပုံသဏ္ဍာန်တိုင်းတာခြင်းအတွက် အလွန်အသုံးဝင်ပြီး ပိုမိုပြည့်စုံသော ဂျီဩမေတြီအချက်အလက်များကို ပေးစွမ်းနိုင်ပါသည်။
3. တစ်စိတ်တစ်ပိုင်း စွမ်းဆောင်နိုင်မှုကို ထောက်လှမ်းခြင်း- 3D touch probe တပ်ဆင်ထားသော VMM ကို အလင်းဝင်ပေါက်၊ အပေါက်ပေါက်၊ notch စသည်တို့ကဲ့သို့ အစိတ်အပိုင်းအင်္ဂါရပ်များကို သိရှိနိုင်စေရန်နှင့် အဆိုပါအင်္ဂါရပ်များ၏ တိကျသော တိုင်းတာမှုကို ပရိုဘီ၏ အစပျိုးတိုင်းတာခြင်းဖြင့် ရရှိနိုင်ပါသည်။
4. Multi-point တိုင်းတာခြင်းနှင့် တိုင်းတာခြင်းလမ်းကြောင်း စီစဉ်ခြင်း- 3D touch probe သည် များပြားလှသော တိုင်းတာမှုအမှတ်များ၏ လမ်းကြောင်းများကို အလိုအလျောက် စီစဉ်ပေးကာ၊ ထို့ကြောင့် အချက်ပေါင်းများစွာ တိုင်းတာမှုကို ရရှိပြီး တိုင်းတာမှု ထိရောက်မှုကို အလွန်တိုးတက်စေသည်။
5. ဆော့ဖ်ဝဲပံ့ပိုးမှုနှင့် ဒေတာလုပ်ဆောင်ခြင်း- 3D touch probe တွင် ရရှိထားသောဒေတာကို စီမံဆောင်ရွက်ခြင်း၊ ခွဲခြမ်းစိတ်ဖြာခြင်းနှင့် မြင်ယောင်နိုင်စေသည့် ပရော်ဖက်ရှင်နယ်တိုင်းတာခြင်းဆော့ဖ်ဝဲဖြင့် တပ်ဆင်ထားပြီး တိုင်းတာမှုရလဒ်များကို နားလည်ပြီး အသုံးချရန် ပိုမိုလွယ်ကူစေသည်။
6. ရှုပ်ထွေးသောဖွဲ့စည်းပုံများကို တိုင်းတာခြင်း- ရှုပ်ထွေးသောဖွဲ့စည်းပုံများနှင့် ပုံသဏ္ဍာန်ပုံသဏ္ဍာန်များရှိသော အစိတ်အပိုင်းများအတွက် 3D touch probe သည် ပိုမိုကောင်းမွန်စွာလိုက်လျောညီထွေဖြစ်ပြီး တိုင်းတာနိုင်သောကြောင့် ပိုမိုပြည့်စုံသောဒေတာစုဆောင်းမှုကို ရရှိစေပါသည်။
လျှောက်လွှာ
VMM တွင် 3D touch probe ကိုတပ်ဆင်ခြင်းသည် ရှုပ်ထွေးသောအင်္ဂါရပ်များနှင့်ဖွဲ့စည်းပုံများဖြင့်နမူနာများကိုရင်ဆိုင်ရသည့်အခါ optical မှန်ဘီလူး၏မလုံလောက်သောတိုင်းတာမှုစွမ်းရည်အတွက်လျော်ကြေးပေးလိမ့်မည်။ထို့ကြောင့်၊ အပလီကေးရှင်းအခြေအနေသည် ရိုးရာညှိနှိုင်းတိုင်းတာရေးစက် (CMM) နှင့် ထပ်နေပါသည်။
ကျွန်ုပ်တို့၏အဖွဲ့သည် အောက်ပါအခြေအနေများတွင် VMM (3D touch probe ပါသော) ကိုရွေးချယ်ပြီး အကြံပြုနိုင်သည်-
1. တိုင်းတာမှု တိကျမှုသည် (5+L/200) ထက် မကျော်လွန်နိုင်ပါ။
2. တစ်နေ့လျှင်တိုင်းတာရန် လိုအပ်သောနမူနာများသည် ပမာဏကြီးမားသောကြောင့် ရိုးရာ CMM ကိုအသုံးပြုခြင်းသည် အချိန်ကုန်လွန်းသည်။
3. ဘတ်ဂျက်သည် CMM ၏ကုန်ကျစရိတ်နှင့်မကိုက်ညီပါ၊ သို့မဟုတ် CMM ကိုနေရာချရန်နေရာမလုံလောက်ပါ။၎င်းအစား VMM ကို အသုံးပြုရန် စဉ်းစားနိုင်သည်။
ထုတ်ကုန်လုပ်ငန်းဆိုင်ရာ စည်းကမ်းချက်များအရ၊ ကျေးဇူးပြု၍ ကိုးကားပါ-
ဘောလီများ၊ အခွံမာသီးများ၊ ဂီယာများ၊ ရှပ်များကဲ့သို့သော စက်ပိုင်းဆိုင်ရာ အစိတ်အပိုင်းများ၊
တံဆိပ်တုံးထုခြင်း၊ အသေပုံသွင်းအစိတ်အပိုင်းများ၊ အလင်းမှိုများ၊ နှင့် အီလက်ထရွန်းနစ်ထုပ်ပိုးမှုမှိုများကဲ့သို့သော တိကျသောမှိုထုတ်လုပ်မှု၊
ပေါင်းစပ်ပစ္စည်းများဖြင့် ပြုလုပ်ထားသော ဖွဲ့စည်းတည်ဆောက်ပုံ အစိတ်အပိုင်းများကဲ့သို့သော အာကာသယာဉ်၊
အချို့သော ထုပ်ပိုးမှု အစိတ်အပိုင်းများကဲ့သို့သော အီလက်ထရွန်နစ် အစိတ်အပိုင်းများ၊
ဆေးဘက်ဆိုင်ရာကိရိယာများ;အစားထိုးပစ္စည်းများ၊ ဆေးဘက်ဆိုင်ရာ ကိရိယာများနှင့် stents များကဲ့သို့သော
3D ထိတွေ့မှုတိုင်းတာခြင်းဆိုင်ရာ နောက်ထပ်အချက်အလက်များအတွက် ကျွန်ုပ်တို့၏ YouTube ချန်နယ်မှ ကြိုဆိုပါတယ်- https://www.youtube.com/watch?v=s27TOoD8HHM&list=PL1eUvesN07V9kJ5zZJUOuvUtzktCO06QK&index=4
သင့်တွင် သက်ဆိုင်ရာ ပရောဂျက်လိုအပ်ချက်များရှိပါက တိုင်ပင်ဆွေးနွေးရန် ကျွန်ုပ်တို့ထံ အခမဲ့ဆက်သွယ်ပါ။
စာတိုက်အချိန်- သြဂုတ်-၃၁-၂၀၂၃