Tiedätkö näönmittauskoneen kehityshistorian?
Mennään katsomaan.
A1: 1900-luvun 70-luvun lopulla, varsinkin sen jälkeen, kun professori David Marr loi "Computational Vision" teoreettisen kehyksen, kuvankäsittelytekniikka ja kuvaanturit ovat kehittyneet nopeasti.Koordinaattimittaustekniikan kehittymisen ja kypsymisen myötä optiseen vertailuun perustuvien koordinaattimittausmenetelmien kehittäminen ja soveltaminen ovat edistyneet merkittävästi optisen mittauksen alalla.
B2: View Engineering keksi vuonna 1977 maailman ensimmäisen RB-1-kuvanmittausjärjestelmän, jota ohjataan moottorin XYZ-akselilla (katso kuva 1), joka on automaattinen kuvanmittauslaite, joka integroi videotunnistuksen ja ohjelmistomittauksen ohjauspäätteeseen.Lisäksi Mechanical Technologyn BoiceVista-järjestelmä hyödyntää CMM:ää täyden hyödyn integroimalla videokuvan mittausjärjestelmän CMM:n mittapäähän, joka vertaa mitattuja tietoja esiohjelmoituihin nimellismittoihin ja toleransseihin.Nämä kaksi instrumenttia lainaavat eri tavoin koordinaattimittauskoneen koordinaattimittausperiaatetta ja projisoivat mitattavan kohteen kuvan koordinaattijärjestelmään.Sen mittausalusta perii koordinaattimittauskoneen muodon, mutta sen anturi on samanlainen kuin optinen projektori.Näiden instrumenttien ilmaantuminen on avannut tärkeän mittauslaiteteollisuuden eli kuvanmittauslaiteteollisuuden.Viime vuosisadan 80-luvun alussa kuvamittaustekniikassa tapahtui merkittävä kehitys.
C3: Vuonna 1981 ROI kehitti optisen kuvasondin (katso kuva 2), joka voi korvata kosketusmittauslaitteen kosketusmittauslaitteen kosketuksettomassa mittauksessa, ja siitä lähtien tästä optisesta lisälaitteesta on tullut yksi kuvantamislaitteiden peruskomponenteista. .80-luvun puolivälissä markkinoille ilmestyi kuvanmittauslaitteita, joissa oli suurennos mikroskooppiokulaarit.
D4: Viime vuosisadan 90-luvulla CCD-tekniikan, tietotekniikan, digitaalisen kuvankäsittelytekniikan, LED-valaistustekniikan, DC/AC-servokäyttötekniikan kehityksen myötä kuvanmittauslaitetuotteet ovat saavuttaneet suurta kehitystä.Kuvanmittauslaitetuotemarkkinoille on tullut lisää valmistajia ja yhdessä edistänyt kuvanmittauslaitetuotteiden kehitystä.
E5: Vuoden 2000 jälkeen Kiinan tekninen taso tällä alalla on jatkuvasti parantunut, ja myös kuvanmittausteknologian tutkimusta koskevaa kirjallisuutta on ilmestynyt edelleen;Myös kotimaisten yritysten kehittämiä kuvanmittauslaitteita on jatkuvasti parannettu ja kehitetty tuotannon mittakaavan, valikoiman ja laadun suhteen.Vuonna 2009 Kiina muotoili kansallisen standardin GB/T24762-2009: Product Geometry Technical Specification (GPS) -kuvanmittauslaitteen hyväksynnän havaitseminen ja uudelleentarkastuksen havaitseminen, joka sopii XY-tason suorakulmaisen koordinaattijärjestelmän kuvanmittauslaitteeseen, mukaan lukien kuvanmittauslaite, jossa on paikannus- tai mittaustoiminto Z-suunnassa kohtisuorassa suorakulmaiseen koordinaattijärjestelmään nähden.
Postitusaika: 10.8.2023